Pracownia Preparatyki Próbek Cryo-SEM

 

Uniwersytet Warszawski, Wydział Geologii
ul. Żwirki i Wigury 93, 02-089 Warszawa
tel. 22 55 40 320, e-mail: b.baginski1@uw.edu.pl
Kierownik: Bogusław Bagiński

 

 

templates/nanofun/photo/Laboratoria/PPCryoSEM_01.jpg

templates/nanofun/photo/Laboratoria/PPCryoSEM_02.jpg
templates/nanofun/photo/Laboratoria/Prac_prep_CryoSEm2.jpg
templates/nanofun/photo/Laboratoria/NanoFun_GeologiaUW 4_023_BBaginski.jpg

Zadaniem Pracowni Preparatyki Próbek Cryo-SEM jest przygotowywanie preparatów do badań z użyciem wyspecjalizowanych technik badawczych takich jak EPMA, SEM, EBSD, CL oraz wielu innych. Docierarka jest urządzeniem pozwalającym na przygotowanie cienkich preparatów o grubości 30 ± 2 mikrometrów. Proces docierania może odbywać się na próbkach różnej twardości, w ilości od 3 do 12 sztuk o wymiarach szkiełka 28 x 48mm lub od 3 do 6 sztuk próbek o wymiarach szkiełka 48 x 56mm.


Polerka automatyczna do szlifów jest urządzeniem kompaktowym, umożliwiającym jednoczesne polerowanie od 1 do 3 lub od 1 do 5 szlifów na dysku polerskim z tworzywa sztucznego z wykorzystaniem płynu ściernego z drobnym proszkiem ściernym. Ze względu na możliwą niejednorodność polerowanych próbek, polerowanie próbki odbywa się w wielu kierunkach poprzez złożenie ruchu obrotowego dysku polerskiego, ruchu próbki wokół własnej osi oraz przemieszczania się uchwytu na próbki po okręgu o średnicy mniejszej od średnicy dysku polerskiego oraz o osi obrotu różnej od osi obrotu dysku polerskiego.


Prasa spajająca jest urządzeniem używanym do naklejania preparatów na szkiełka, która prócz zestawu obciążników posiada podgrzewaną ławę ze stabilizacją temperatury, dzięki której skraca się proces spajania preparatu ze szkiełkiem.

 

Stół szlifierski jest urządzeniem wolnostojącym z zabudowanymi dwoma dyskami szlifierskimi, posiadającym układ podawania cieczy na tarcze w układzie otwartym lub zamkniętym, z możliwością niezależnego nastawiania prędkości obrotowej dysków szlifierskich, służącym do ręcznego obrabiania sformatowanych próbek po cięciu i/lub do ręcznego przygotowywania szlifów o dowolnym rozmiarze nieprzekraczającym połowy średnicy dysków polerskich.

Precyzyjna piła do cięcia próbek umożliwia cięcie materiału (skały, metale, inne próbki stałe) z dużą precyzją i możliwość uzyskania preparatów o grubości poniżej 100 mikronów.

 


Wysokorozdzielcza napylarka próżniowa do mikroskopów elektronowych typu FE-SEM
i FIB-CryoSEM.


Niskotemperaturowa suszarka próżniowa (liofilizator) do preparatyki próbek do mikroskopów elektronowych typu FE-SEM i FIB-CryoSEM.